칩 최종 테스트 중 저온 테스트

칩은 공장을 떠나기 전에 전문 포장 및 테스트 공장(최종 테스트)으로 보내져야 합니다. 대형 포장 및 테스트 공장에는 수백 또는 수천 대의 테스트 장비가 있으며, 칩은 이 장비에서 고온 및 저온 검사를 거칩니다. 테스트를 통과한 칩만 고객에게 배송될 수 있습니다.

칩은 섭씨 100도 이상의 고온에서 작동 상태를 테스트해야 하며, 테스트 장비는 여러 번의 왕복 운동을 통해 온도를 빠르게 영하로 낮춰야 합니다. 압축기로는 이처럼 빠른 냉각이 불가능하기 때문에 액체 질소가 필요하며, 이를 공급하기 위해 진공 절연 배관과 상 분리기가 함께 사용됩니다.

이 테스트는 반도체 칩에 매우 중요합니다. 반도체 칩 고온 및 저온 습식 열 챔버는 테스트 과정에서 어떤 역할을 합니까?

1. 신뢰성 평가: 고온 및 저온 습열 시험은 극한의 환경 조건(예: 초고온, 저온, 고습 또는 습열 환경)에서 반도체 칩의 사용을 시뮬레이션할 수 있습니다. 이러한 조건에서 시험을 수행함으로써 장기간 사용 시 칩의 신뢰성을 평가하고 다양한 환경에서의 작동 한계를 파악할 수 있습니다.

2. 성능 분석: 온도 및 습도 변화는 반도체 칩의 전기적 특성과 성능에 영향을 미칠 수 있습니다. 고온 및 저온 습열 시험을 통해 전력 소비, 응답 시간, 누설 전류 등 다양한 온도 및 습도 조건에서 칩의 성능을 평가할 수 있습니다. 이는 다양한 작동 환경에서 칩의 성능 변화를 파악하고 제품 설계 및 최적화에 참고 자료를 제공하는 데 도움이 됩니다.

3. 내구성 분석: 반도체 칩은 온도 변화 및 습열 사이클 조건에서 팽창 및 수축하는 과정에서 재료 피로, 접촉 불량, 납땜 불량 등의 문제를 겪을 수 있습니다. 고온 및 저온 습열 시험을 통해 이러한 응력과 변화를 모사하고 칩의 내구성과 안정성을 평가할 수 있습니다. 반복적인 조건에서 칩 성능 저하를 감지함으로써 잠재적인 문제를 사전에 파악하고 설계 및 제조 공정을 개선할 수 있습니다.

4. 품질 관리: 고온 및 저온 습열 시험은 반도체 칩의 품질 관리 공정에서 널리 사용됩니다. 칩에 대한 엄격한 온도 및 습도 순환 시험을 통해 요구 사항을 충족하지 못하는 칩을 선별하여 제품의 일관성과 신뢰성을 보장할 수 있습니다. 이는 제품의 불량률과 유지 보수율을 줄이고 제품의 품질과 신뢰성을 향상시키는 데 도움이 됩니다.

HL 극저온 장비

1992년에 설립된 HL 극저온 장비는 HL 극저온 장비 유한회사(HL Cryogenic Equipment Co.,Ltd.)의 계열 브랜드입니다. HL 극저온 장비는 고객의 다양한 요구를 충족하기 위해 고진공 절연 극저온 배관 시스템 및 관련 지원 장비의 설계 및 제조에 전념하고 있습니다. 진공 절연 파이프와 연성 호스는 고진공 및 다층 다중 스크린 특수 절연 재료로 제작되며, 일련의 매우 엄격한 기술 처리 및 고진공 처리를 거쳐 액체 산소, 액체 질소, 액체 아르곤, 액체 수소, 액체 헬륨, 액화 에틸렌 가스(LEG) 및 액화 천연 가스(LNG) 이송에 사용됩니다.

HL 극저온 장비 회사의 진공 밸브, 진공 파이프, 진공 호스 및 상 분리기 제품군은 매우 엄격한 기술 처리를 거쳐 생산되며, 액체 산소, 액체 질소, 액체 아르곤, 액체 수소, 액체 헬륨, LEG 및 LNG의 이송에 사용됩니다. 이러한 제품들은 전자, 초전도체, 반도체, MBE, 제약, 바이오뱅크/셀뱅크, 식품 및 음료, 자동화 조립, 과학 연구 등 다양한 산업 분야의 극저온 장비(예: 극저온 탱크 및 듀어 플라스크 등)에 사용됩니다.


게시 시간: 2024년 2월 23일